STM8SF103F3 多通道AD连续扫描

负西弱

      最近在学习STM8S，使用的是STM8SF103F3 ，网上一块最小板5元~~在学习ADC模块时，想实现像STM32那样的多通道连续扫描的效果，网上搜了一下，都没发现合自己心水的代码，想着反正有中文版的参考手册，自己写吧，估计跟STM32差不多。没想到一写，才发现跟STM32的有点不一样，差点把自己搞晕了，主要注意以下几点：

1、我使用的这个芯片没有DMA，还好多了一个数据缓存寄存器，配合中断也是基本上能达到STM32使用DMA的效果；

2、STM8S的AD的扫描模式比较坑爹，只能规定从AIN0通道开始转换，一直转换到AINn通道，跟STM32可以指定扫描序列相比简直不能忍；

3、按照正常思路，在AD的转换完成中断函数中要清除相应的标志位，一开始直接调用库函数ADC1_ClearITPendingBit(ADC1_IT_EOC)，发现又跪了，仔细看参考手册，发现有这么一段话：
    “在扫描模式中，不要使用位操作指令去清除EOC标志位，这是因为该指令是对整个ADC_CSR寄存器的一个读-修改-写操作。而在扫描转换的过程中，序号CH[3:0]位的值是被硬件自动更新的，它总是保存当前正在被转换的通道编号，从CH[3:0]寄存器中读取当前的通道编号和写回该寄存器，将会改变扫描序列的最后通道编号。
     在连续扫描模式中正确的清除EOC标志位的方法是从一个RAM变量中载入一个字节到ADC_CSR寄存器，这样来
清除EOC标志位同时还重新载入扫描序列新的最后通道编号。”
      这个不仔细看还真的掉坑里面去了。

      不知道我的理解对不对，还请大家多多指教，最后附上代码：

正点原子

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