适用于带fifo接口的存储器和显示器测试模块封装 挑战cb

shenyae86

cb说完美是没有极限的，对此我表示赞同，自从用了cb的板子，玩开cmos，fpga，sdram，vga等。

不断涌现的是，双端口sdram，四端口sdram，各式各样的封装，但是大同小异，但总是有些不同，对于初学的我，感觉还是挺费事，玩转各种例程发现，cb的sdram驱动程序很强大但并不完美，其中对sdram有挑选作用，如hy57v641620ftp-7很ok的使用，换成hy57v641620ftp-6就有问题，但是使用其他版本程序测试，这两个ic均ok。

 

这个问题一度困扰过cb良久，最终cb偶然发现，将突发长度从256改为128，就能好好的解决，自此，解决了问题（详情参阅cb博客）

 

但是这样可能并不完美，需要深究其根本，就得仔细阅读内部代码，仔细推敲，本人水平有限，所以只能一步一个脚印。

现将兼容和不兼容的程序统一接口，使得程序更好移植，逻辑更加清晰。

ps：cb的接口已经做得很棒，只是我不太习惯，以下移植接口，按照我的思维理解方式修改。

 

先看看cb现有的接口

改造中

 

1、

module LCDData_Simulate
(
input clk, //globan clock
input rst_n, //Global reset
input sys_vaild, //the device is ready
input[7:0] DIVIDE_PARAM, //0-255
input[11:0] X_size,　　// 增加x尺寸大小输入，
input[11:0] Y_size,　　// 增加y尺寸大小输入，
//sys 2 sdram control
output disp_valid,　　// 增加显示有效信号输出，告知设备，目前输出像素有效，类似显示的帧同步信号
output reg [15:0] sys_data,
output sys_we
);

 

2、SDRAM_VGA_Display_Test

增加 WR_LOAD信号，根据数据产生模块的帧有效的信号，产生一个脉冲，高电平脉冲，在帧同步信号结束时产生，用于清除fifo

wire WR_LOAD;
reg sys_disp_valid_r1;
reg sys_disp_valid_r2;
always@(posedge clk_ref)
begin
sys_disp_valid_r1<=sys_disp_valid;
sys_disp_valid_r2<=sys_disp_valid_r1;
end
assign WR_LOAD=sys_disp_valid_r1&(!sys_disp_valid_r1);

 

3、SDRAM_VGA_Display_Test

 

// FIFO Write Side
.WR_CLK (clk_write), //write fifo clock
.WR_LOAD (WR_LOAD), //使用此信号
.WR_DATA (sys_data_in), //write data input
.WR (sys_we_in), //write data request
.WR_MIN_ADDR (22'd0), //write start address
.WR_MAX_ADDR (`H_DISP * `V_DISP *22'd1), //write max address
.WR_LENGTH (9'd256), //write burst length

 

 

就此，第一步兼容已经完成，此目的已经达到数据产生模块任意间隔产生数据，保证同步，下一再实现显示器尺寸自动匹配功能。

xiao4ck

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