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发表于 2012-4-9 15:07:53 | 显示全部楼层 |阅读模式
● 开漏模式时,读输入数据寄存器时可得到I/O口状态
● 在推挽模式时,读输出数据寄存器时可得到最后一次写的值

这两句不是很懂。 应该看哪部分资料
正点原子逻辑分析仪DL16劲爆上市
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 楼主| 发表于 2012-4-9 15:09:11 | 显示全部楼层
推挽模式:输出寄存器上的’0’激活N-MOS,而输出寄存器上的’1’将激活P-MOS。

这两个可以同时被激活? 不是相反的么?
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发表于 2012-4-9 15:50:17 | 显示全部楼层
回复【2楼】767904101:
---------------------------------
你写个能同时激活的代码给我看看.让我膜拜一下.
我是开源电子网www.openedv.com站长,有关站务问题请与我联系。
正点原子STM32开发板购买店铺http://openedv.taobao.com
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