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AMS1117 温升测试 ,温漂的罪魁祸首

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发表于 2024-7-8 14:05:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 zhaozong2018 于 2024-7-8 14:14 编辑

最近在做一个uV电压采集的产品,发现总是开机用了一段时间后,采集结果慢慢变不准了,找了很久没找到原因,后来发现是电路版温度慢慢升高导致,结果发现罪魁祸首是1117, 1117在大电流的时候会发热。
把AMS1117的温升详细做个个测试。
测试设备:
1、稳压电源  2、电子负载  3、温度记录仪

5V电压输入,3.3V输出,热电偶贴到1117表面,上位机检测温度曲线,方便测试100mA、200mA、300mA、400mA、500mA、600mA、700mA、800mA时的温升情况。

结果汇总:

在800mA的时候AMS1117表面温度会升高的75度,小伙伴在做精密信号采集电路的时候,一定要考虑温升对模拟电路的影响,测量电路务必使用低温飘电阻





电子负载

电子负载

微压电源

微压电源
微信图片_202407081331122.jpg

温度曲线

温度曲线

测试结果

测试结果

测试过程

测试过程
正点原子逻辑分析仪DL16劲爆上市
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 楼主| 发表于 2024-7-8 21:15:07 | 显示全部楼层
有人问测温的小东西哪里买的,我把购买链接贴上  https://item.taobao.com/item.htm ... amp;id=810130697284
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 楼主| 发表于 2024-7-8 21:16:19 | 显示全部楼层
有人我测温的小东西哪里可以买,我把链接贴上  https://item.taobao.com/item.htm ... amp;id=810130697284
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发表于 2024-7-10 09:57:18 | 显示全部楼层
负载变化LDO的表面温升肯定会变啊,uV级的你用单片机自带的ADC采?
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 楼主| 发表于 2024-7-10 10:14:05 | 显示全部楼层
阿侑kevin 发表于 2024-7-10 09:57
负载变化LDO的表面温升肯定会变啊,uV级的你用单片机自带的ADC采?

是用的外部ADC芯片,测试发现ADC芯片温漂还好,温度比较敏感的是ADC输入前面的差分放大电路和电压基准TL432,设备是密封的,LDO表面的温度会导致腔体内温度慢慢上升
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发表于 2024-7-10 10:33:42 | 显示全部楼层

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发表于 2024-7-10 13:08:36 | 显示全部楼层
zhaozong2018 发表于 2024-7-10 10:14
是用的外部ADC芯片,测试发现ADC芯片温漂还好,温度比较敏感的是ADC输入前面的差分放大电路和电压基准TL4 ...

那这样就不能用小功率的LDO了,换大功率的DCDC会好一点
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 楼主| 发表于 2024-7-10 13:22:47 | 显示全部楼层
阿侑kevin 发表于 2024-7-10 13:08
那这样就不能用小功率的LDO了,换大功率的DCDC会好一点

是的,大电流还是DCDC好,不过DCDC纹波大,也挺矛盾的,我准备测量电路单独ldo供电,其他功耗大的部分用dcdc,另外程序做些低功耗逻辑
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发表于 2024-7-10 14:45:35 | 显示全部楼层
zhaozong2018 发表于 2024-7-10 13:22
是的,大电流还是DCDC好,不过DCDC纹波大,也挺矛盾的,我准备测量电路单独ldo供电,其他功耗大的部分用d ...

可以试试用TL431做基准
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