DFPGL25G开发板“Scan Outer Flash”失败

lux0205

今天想在DFPGL25G开发板上固话程序来着，已经正常生成sfc 文件了。但是寻找外部flash时，
提示“E: JtagServer-0336: Flash id is 0x0, maybe the clock frequency is high or this flash is not supported, please reduce the clock frequency of cable or replace with other flash.

E: Configuration-0008: The command 'Scan Outer SPI Flash' execute fail.

”，之前都能正常找到flash，网上也没找到相关的问题原因，请教一下各位大概这是什么情况。flash是兆易创新的W25Q128，新入手不久的开发板，无磕碰，应该不是元器件的问题。重新上电了，应该还是固化的之前的老程序，没改过系统时钟。

mpoint

参见:  https://blog.csdn.net/YoungyoungSmart/article/details/141023563

故障描述:提示“E: JtagServer-0336: Flash id is 0x0, maybe the clock frequency is high or this flash is not supported, please reduce the clock frequency of cable or replace with other flash.
E: Configuration-0008: The command ‘Scan Outer SPI Flash’ execute fail.”。
解决办法:经过与正点原子技术客服的沟通，在关机开机的瞬间，DONE灯未亮之前，扫描flash，可以扫描到，然后擦除flash，往flash里下载正点原子出厂测试程序，就解决了，后面正常扫描flash即可。出厂测试程序可以找正点原子客服要。
故障分析:出现这个问题，应该是之前擦除了flash，导致fpga无法读取flash所致，后面不要擦除flash，即可正常扫描到flash。
注:纯解决步骤分享，不喜勿喷。
            
原文链接：https://blog.csdn.net/YoungyoungSmart/article/details/141023563

xige

我刚验证了下25G的固化，按照FPGA开发文档第五章点亮LED灯下的固化小节操作的，可以正常固化，核心板换过FLASH芯片，有的是GD25的有的是W25的，但是固化时FLASH按文档写的型号选择两种都可以固化，你这个我看着像型号选错了，方便的话可以发出来你的固化生产界面的截图看看，你的固化界面绑定了FLASH后的界面最好也一起截图发出来