关于32片上ADC外部信号采集及内部1.2V采集互相干扰的问题

babyrabbit · 发表于 2021-12-28 14:22:09

程序如图使用ADC对内部通道的1.2V基准采集计算供电电压VDDA 以及对CH7的外部信号进行采集
实测时发现如果先进行了内部1.2V的采集（程序72、73行）再对外部信号采集最后外部信号就完全不对
反过来先对外部信号采集再进行内部的采集（程序）81、82行最后结果就没问题了

供电3.3V 外部信号转换理论结果200 主函数目前只有这个ADC采集的部分两次采集之间尝试过加延时也没什么效果
STM32L072单片机 ADC初始化配置采用单次转换 19.5个时钟周期已经启用了ADC的自校准
只在转换时单独对ADC通道配置了一下并开启转换其他参数都未改动
求大佬指点下是哪里对ADC转换产生干扰了？？？

正点原子 · 发表于 2021-12-29 01:39:18

采集内部1.2是做啥子用？

babyrabbit · 发表于 2021-12-29 08:54:06

正点原子发表于 2021-12-29 01:39
采集内部1.2是做啥子用？

电池供电估算VDDA

STM32TSZ · 发表于 2021-12-29 09:32:41

同问楼上

正点原子 · 发表于 2022-1-4 00:34:17

倒是没试过读取内部电压，你继续努力

正点原子 · 发表于 2022-1-4 00:34:17

倒是没试过读取内部电压，你继续努力

聚东风 · 发表于 2022-1-4 08:27:28

1.你说了自校准,但是没看到程序有写.应该是在时钟初始化后进行校准,至少我是这样的.
2.不管是IO口还是ADC使能完成是需要时间的,单片机是很快,但是人家也要时间的.具体去查芯片的数据手册,数据手册都会告诉你.就是在每个时钟使能后面应该有延时.
如果不知道怎么弄就用库函数,库函数会帮你把所有问题给处理掉的.
3.你可以尝试下把两个通道同时写入序列采集,然后按序列触发看看.

babyrabbit · 发表于 2022-1-4 15:47:22

聚东风发表于 2022-1-4 08:27
1.你说了自校准,但是没看到程序有写.应该是在时钟初始化后进行校准,至少我是这样的.
2.不管是IO口还是ADC ...

感谢解答~~~
自校准是在程序最开始时进行的应该没问题上次没开自校准内部电压采集的都不是很准而且我刚才试了一下每次采集之前加上自校准最后结果也没什么变化
L0要用HAL库之前试着用了一下不是很习惯以前只用F1和标准库下次写的时候会借鉴一下H库的

前几天借了个示波器看了下信号，第二种方案测量准确的原因找到了，这是个错误的数据，待测信号在每次转换前才进行输出，输出时会有一个从0上升还带点儿过冲的过程，如果先采集外部通道信号，每次采集都是在这个上升沿的过程，而且因为程序运行时间的原因，转换时的值刚好很接近真实值。
实际上用示波器看，信号稳定后会有一定的波动，输出不会那么稳定的，只要稍微加一点点延时转换结果就不能像图里那么完美了

至于第一种方案的偏差大，猜测是标定的过程中用了方案二，标定点不可靠，目前重新处理了一下偏差小很多了但是数据转换的稳定性还不是很好，我再看看有啥别的方法