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市场上DS18B20测温芯片的困惑。

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发表于 2017-3-9 09:06:54 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 xuande 于 2017-3-9 09:11 编辑

操作DS18B20测温芯片有两次CRC步骤,
一次是在读取ROM(即芯片ID)时需要CRC校验,另一次是读取温度值的时候。
如果严格操作,为了保证数值完全正确,两次CRC校验都应当执行;如果不严格,不做CRC也行吧。

我起初的程序是按严格操作,两次CRC都执行,用定时器延时,示波器配合调试,程序应当没问题。

但小批量的时候遇到问题了,问题都出在CRC校验上,校验值错误。
有的在读ID环节能通过CRC校验,但是读温度却不行,不论温度值是多少,读到的校验值字节始终是一个值(记得是0xAB),
有的两次CRC都错误。

先后从淘宝买过三批芯片,都是比较可信的商家;从本地商家手里买过一批,也是长期合作、比较可信的商家。但芯片的表现却都不一样,来源相同,毛病也相同;同一批货,同样的问题。

这事已经持续了两、三年,至今没有解决。很困惑。
为了应急,暂时关闭了CRC校验。

欢迎各位说说自己的经验。




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 楼主| 发表于 2017-3-9 13:37:52 | 显示全部楼层
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发表于 2024-7-10 11:42:22 | 显示全部楼层
最近发现一样的问题,很困惑。。。  不判断CRC总觉得不安全, 测了砷硒凌和敏源的,都有类似情况偶尔CRC校验不正确,现在临时做法是CRC错了 就使用上一次测量的温度。
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 楼主| 发表于 2024-7-11 11:56:56 | 显示全部楼层
zhaozong2018 发表于 2024-7-10 11:42
最近发现一样的问题,很困惑。。。  不判断CRC总觉得不安全, 测了砷硒凌和敏源的,都有类似情况偶尔CRC校 ...


我的问题几年前已经解决了。
当时按一个文档提供的数据,重新修改了所有的延时长度。
修改后所有的芯片都能正常通过CRC校验。

下午我把那个文档找找,发上来。

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 楼主| 发表于 2024-7-12 11:17:38 | 显示全部楼层


时间长了,可能是这个文档。

DS18B20 Datasheet时序完全解读.rar (88.03 KB, 下载次数: 4)
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 楼主| 发表于 2024-7-12 11:18:10 | 显示全部楼层
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